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光度计

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Evolution™ 201 紫外可见分光光度计

Evolution™ 201 紫外可见分光光度计

  • Evolution™ 201 紫外可见分光光度计,, 2011 年度 R&D 100 大奖获得者。采用 Thermo Scientific™ Evolution 201 和 220 紫外-可见光分光光度计……
产品详细

Evolution™ 201 紫外可见分光光度计,,

2011 年度 R&D 100 大奖获得者。采用 Thermo Scientific™ Evolution 201 和 220 紫外-可见光分光光度计进行分析,扩展了实验室的应用范围,并提高了生产率。新一代 Thermo Scientific™ INSIGHT™ 软件可同时应用于平板电脑和计算机控件,确保您的仪器紧跟技术潮流,并随时应对新的样品挑战。我们的自定义用户环境 (CUE) 软件允许您完全自定义逻辑测量步骤和输出环境,从而将您的常规测量提升到新的水平。

无论常规分析还是研究分析,该系列仪器真正的创新之处在于增强了实用性和性能 - 却不会增加复杂性。简单的软件、先进的仪器以及广泛的附件选择让 Evolution 201 和 220 系统能按您希望的方式进行实验并获得您需要的结果。

 

INSIGHT 软件——化繁为简

◆ 个性化的主屏幕,易于导航,增强了便利性

◆ 工作手册工具可以节省时间,确保实验结果的准确性

◆ CUE 脚本允许创建定制的界面和简化的工作流程

 

优化的工程学设计可提供最佳性能

◆ 1nm 光谱带宽的双光束几何元件实现各种精密测量

◆ 光学汇聚 (AFBG) 技术极大程度上优化了微量池、固体样品和光纤探针的性能

◆ 氙闪光灯无需预热时间,可进行瞬时测量

◆ 采用电子触发,为快速混合动力学测定提供最高水平的准确度

◆ 精密的单色器驱动设计,提供快速扫描数据采集和波长准确度

 

指尖轻点,轻松完成

◆ 利用彩色触摸屏和内置计算机进行仪器控制

◆ 采用集成式键盘与 INSIGHT 软件通讯

◆ 灵活便利的本机或计算机配置选项

 

满足多种采样需求的附件

◆ 多种附件选择,包括各种温度控制选件、样品转换器、吸样器和固体采样装置,帮助您完成分析任务

◆ 选择 Peltier 单个池架或智能 Peltier 8 联池系统来进行温度控制,并对样品实施 0°到 100 °C 的监控

◆ 易于使用的软件集成化帮助您完全控制整个测定过程

 

保障系统性能

◆ 赛默飞紫外校验包支持各种系统认证和验证工作

◆ 文件记录功能确保您的系统符合 FDA、GxP、ISO 9001:2000 和 ISPE 2001 规定和条例的要求

◆ 汞灯附件可用于进行仪器校准

◆ 赛默飞 INSIGHT security 软件能够提供完整的工具以符合 21 CFR 第 11 部分要求

规格参数

基线平坦度:±0.0010 A,200-800 nm,1.0 nm SBW,平滑

认证/合规:ISO 9001:2008

连接:USB 或 RS-232

描述:Evolution 201 UV-Vis Spectrophotometer, Computer Control, includes Euro/US/UK power cords

检测器类型:双硅光电二极管

显示器:无

尺寸(长 x 宽 x 高):62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in)

光谱带宽:1.0 nm

类型:紫外-可见光分光光度计,计算机控制,随附欧洲/美国/英国规格电源电缆Wavelength Range 190 至 1100 nm

漂移:<0.0005A/hr,500 nm,1.0 nm SBW,1 hr 预热

电气要求:100-240 V, 50-60 Hz,自动选择,最大 150W

维持:比色皿最大 100 mm

包括:EU/US/UK power cords

灯寿命:7 years typical

噪声: 0 A:<0.00015A;1A:<0.00025A;2A:<0.00080A;260 nm,1.0 nm SBW,RMS

光学设计     双光束(带有样品和参考比色皿位置);Czerny-Turner 单色器

药典合规性测试

光度准确度    (60mg/L K2Cr2O7):±0.010 A

杂散光:≤1%T @ 198 nm:KCI;≤0.05%AT @ 220 nm:Nal,Kl

波长精度:541.9、546.1nm Hg 发射线 ±.5 nm,全范围 ±0.8 nm

波长重复性:≤0.05 nm,546.1 nm Hg 发射线重复扫描

光度显示:-0.3 至 4.0A

光度范围:>3.5 A

透射比重复性:±0.0002 A

处理器:Microsoft Windows 7、Windows 8

扫描纵坐标模式:吸光度,% 透射率, % 反射率,Kubelka-Munk,log (1/R). log (Abs) Abs*,强度

扫描速度:<1 至 6000;可变

质保期:3 Years

瓦数:最大 150W

波长精度:±0.5 nm (541.9、546.1 nm 汞线);±0.8 nm(全范围 190 至 1100 n

波长数据间隔:10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1nm

波长重复性:≤0.05 nm(546.1 nm 汞线,10次测量的 SD)

重量(英制):32 lb

重量(公制):14.4 kg

Unit Size:Each

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